首頁 > 應(yīng)用案例 > 技術(shù)文章

Thetametrisis膜厚儀的優(yōu)勢體現(xiàn)在哪里

發(fā)布時間:2023-01-09

瀏覽次數(shù):10046

FR-Mic膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機控 制的XY工作臺,使其快 速、方便和準(zhǔn)確地描繪樣品的厚度和光學(xué)特性圖。

Thetametrisis膜厚儀利用 FR-Mic,通過紫外/ 可見/ 近紅外可輕易對局部區(qū)域薄膜厚度,厚度映射,光學(xué)常數(shù),反射率,折射率及消光系數(shù)進行測量。

Thetametrisis膜厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢:

1、實時光譜測量。

2、薄膜厚度,光學(xué)特性,非均勻性測量,厚度映射。

3、使用集成的,USB連接高品彩色攝像機進行成像。

4、單擊即可分析 (無需初始預(yù)測)。

5、動態(tài)測量。

6、包含光學(xué)參數(shù) (n & k, color)。

7、可保存測量演示視頻錄像。

8、超過 600 種不同材料o 多個離線分析配套裝置操作軟件升級。

1.jpg

技術(shù)中心

technology