Thetametrisis膜厚儀的優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在哪里

發(fā)布時(shí)間：2023-01-09

瀏覽次數(shù)：10039

FR-Mic膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺(tái)計(jì)算機(jī)控制的XY工作臺(tái)，使其快速、方便和準(zhǔn)確地描繪樣品的厚度和光學(xué)特性圖。

Thetametrisis膜厚儀利用 FR-Mic，通過(guò)紫外/ 可見(jiàn)/ 近紅外可輕易對(duì)局部區(qū)域薄膜厚度，厚度映射，光學(xué)常數(shù)，反射率，折射率及消光系數(shù)進(jìn)行測(cè)量。

Thetametrisis膜厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、實(shí)時(shí)光譜測(cè)量。

2、薄膜厚度，光學(xué)特性，非均勻性測(cè)量，厚度映射。

3、使用集成的，USB連接高品彩色攝像機(jī)進(jìn)行成像。

4、單擊即可分析 (無(wú)需初始預(yù)測(cè))。

5、動(dòng)態(tài)測(cè)量。

6、包含光學(xué)參數(shù) (n & k, color)。

7、可保存測(cè)量演示視頻錄像。

8、超過(guò) 600 種不同材料o 多個(gè)離線分析配套裝置操作軟件升級(jí)。