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EVG推出用于高/級(jí)封裝,MEMS和光子學(xué)制造的自動(dòng)化計(jì)量系統(tǒng)

發(fā)布時(shí)間:2020-05-09

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       EV集團(tuán)(EVG)是面向MEMS,納米技術(shù)和半導(dǎo)體市場(chǎng)的晶片鍵合鍵合機(jī)和光刻設(shè)備的領(lǐng)先供應(yīng)商,今天推出了EVG®50自動(dòng)計(jì)量系統(tǒng)。EVG50旨在滿(mǎn)足對(duì)高級(jí)封裝,MEMS和光子學(xué)應(yīng)用日益嚴(yán)格的制造要求,可在鍵合晶圓疊層和光學(xué)用光致抗蝕劑中執(zhí)行高分辨率無(wú)損多層厚度和形貌測(cè)量以及空隙檢測(cè)光刻。該系統(tǒng)可測(cè)量厚度不超過(guò)2微米的層,可檢查多達(dá)100萬(wàn)個(gè)點(diǎn),并且每小時(shí)可生產(chǎn)多達(dá)55片300 mm的晶圓。

       EV Group公司技術(shù)總監(jiān)Thomas Glinsner博士指出:“半導(dǎo)體行業(yè)正見(jiàn)證著對(duì)所有生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行全面控制和監(jiān)視的趨勢(shì)。中端和后端包裝工藝面臨著更嚴(yán)格的工藝約束。以前僅在前端晶圓加工中才能看到的最高水平,因此迫切需要高度精確的在線(xiàn)計(jì)量,可以快速,經(jīng)濟(jì)高效地提供關(guān)鍵的工藝數(shù)據(jù)。能夠以遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)競(jìng)爭(zhēng)系統(tǒng)的速度和分辨率實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)的計(jì)量解決方案?!?/span>

基于廣泛采用的計(jì)量解決方案
       獨(dú)立的EVG50系統(tǒng)是基于公司現(xiàn)有的在線(xiàn)計(jì)量模塊(IMM)開(kāi)發(fā)的,該模塊可作為EVG的300毫米工藝設(shè)備系列中的一個(gè)選件,并已在大批量生產(chǎn)。EVG50是公司多功能EVG®40NT測(cè)量系統(tǒng)的補(bǔ)充,該系統(tǒng)是用于粘合疊層檢查的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),可以滿(mǎn)足客戶(hù)在關(guān)鍵應(yīng)用中對(duì)全面積層厚度和形貌測(cè)量的不斷增長(zhǎng)的需求。EVG50的高通量,無(wú)與倫比的精度和可重復(fù)性,即使在超高分辨率下,也可以對(duì)生產(chǎn)晶圓進(jìn)行具有成本效益的100%檢查,從而改善了工藝控制。

       EVG50的多功能性使其能夠測(cè)量用于光刻的涂層厚度以及晶片的彎曲和翹曲,并在同一系統(tǒng)上對(duì)鍵合晶片堆疊進(jìn)行空隙檢查,而其低接觸邊緣處理能力可實(shí)現(xiàn)無(wú)顆粒,全面積晶片檢查。EVG50的另一個(gè)主要優(yōu)勢(shì)是靈活性。利用多傳感器測(cè)量安裝座,該系統(tǒng)可以針對(duì)不同的厚度范圍和基材進(jìn)行定制,以滿(mǎn)足各種客戶(hù)需求。其自校準(zhǔn)功能還可以實(shí)現(xiàn)更好的系統(tǒng)重現(xiàn)性和生產(chǎn)正常運(yùn)行時(shí)間。

EVG50鍵合光刻工藝計(jì)量系統(tǒng)

       有興趣了解有關(guān)EVG度量衡解決方案套件(包括EVG50)的更多信息的媒體,分析師和潛在客戶(hù),應(yīng)邀參觀了位于美國(guó)加利福尼亞州舊金山SEMICON西區(qū)Moscone會(huì)議中心南大廳的公司1017號(hào)展位。

關(guān)于EV集團(tuán)(EVG)

       EV Group(EVG)是制造半導(dǎo)體,微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS),化合物半導(dǎo)體,功率器件和納米技術(shù)器件的設(shè)備和工藝解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商。主要產(chǎn)品包括晶圓鍵合,薄晶圓處理,光刻/納米壓印光刻(NIL)和計(jì)量設(shè)備,以及光刻膠涂布機(jī),清潔劑和檢查系統(tǒng)。EV Group成立于1980年,為全球范圍內(nèi)的精致的全球客戶(hù)和合作伙伴提供服務(wù)并提供支持。

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