發(fā)布時間:2010-10-20
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美國Filmetrics公司生產(chǎn)的F20薄膜厚度測量儀是以F20為平臺,具有其系列的所有優(yōu)點:利用光譜反射的原理,測量精度達到埃級的分辯率,測量快,操作簡單及*具性價比的薄膜厚度測量設(shè)備。Filmetrics公司的設(shè)備測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm,測量厚度從30A到500um范圍。凡是光滑的,透明或半透明的,或是對光有吸收的膜層都可以測量。 此外F20系列是Filmetrics公司的標(biāo)配專用儀器,以其低廉的價格,優(yōu)越的性能贏的客戶的好評。