發(fā)布時(shí)間:2010-05-06
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美國Filmetrics公司生產(chǎn)的薄膜厚度測(cè)量儀利用光譜反射的原理,測(cè)量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率,測(cè)量快,操作簡單及*具性價(jià)比的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。設(shè)備測(cè)量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從215nm到1700nm,測(cè)量厚度從10A到350um范圍。凡是光滑的,透明或半透明的,或是對(duì)光有吸收的膜層都可以測(cè)量。
同時(shí)我們根據(jù)相關(guān)科研前沿的客戶相關(guān)需求,開發(fā)研制了F30系列,主要應(yīng)用于相關(guān)的在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)試及相關(guān)設(shè)備動(dòng)態(tài)沉淀速率的動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)檢測(cè),此設(shè)備可實(shí)現(xiàn)多波段檢測(cè)及客戶感興趣的任意單一波段實(shí)時(shí)檢測(cè),同時(shí)該設(shè)備具備其他型號(hào)的靜態(tài)檢測(cè)功能。