發(fā)布時(shí)間:2020-07-20
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F20膜厚測量儀采用的是波長范圍在380-1050nm的可見光干涉測量,能夠測量15nm-100um范圍的膜層厚度,準(zhǔn)確度高達(dá)0.4%或2nm,精度為0.1nm,是一款性價(jià)比很高的膜厚測量設(shè)備。
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