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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40-UV膜厚儀的訂單（2013.1.6）

發(fā)布時(shí)間：2020-06-17

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       岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40-UV的訂單。該客戶是廣州一知 名高校，主要研究的是半導(dǎo)體材料的性質(zhì)，其主要用我們的F40-UV測量鍍層SiO2等半導(dǎo)體材料的厚度，顯微鏡是用Filmetrics配套的顯微鏡。
       F40-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量4nm-20um范圍的膜層厚度，精度高達(dá)0.032nm，配置顯微鏡，能夠清晰掃描膜層表面細(xì)微結(jié)構(gòu)，非常適合測量膜層表面細(xì)微位置厚度。
（系統(tǒng)已于2012年12月交付，安裝和驗(yàn)收）
F40膜厚儀
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