岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F50-XT膜厚儀的訂單（2012.10）

發(fā)布時間：2020-06-15

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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F50-XT的訂單。該客戶總部坐落于北京大學昌平校區(qū)內，主要以北京大學寬禁帶半導體研發(fā)中心為技術依托，通過引進優(yōu)良的技術團隊和管理團隊，擁有先進的技術及管理優(yōu)勢。同時，作為新技術的研發(fā)平臺，博士后研究人員、博士生和碩士研究生的培養(yǎng)基地，公司具有產學研一體化的明顯優(yōu)勢。該客戶主要應用F50-XT進行外延片上各膜層厚度圖形掃描測試。

F50-XT膜厚測量儀：

F50-XT 膜厚測量儀采用的是波長范圍在1590-1650nm的紅外光干涉測量，主要應用于硬質涂層等單層或多層膜厚度的測量，操作簡單僅需將探頭放在要測試的位置，就能測出結果，能夠測量10um-1mm范圍的膜厚，精度高達2.5nm，可智能化設定坐標，掃描所測樣品的表面厚度分布，是一款性價比很高的膜厚測量設備。該產品將于2012年10月份，交予客戶正常使用。