發(fā)布時(shí)間:2020-05-27
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由于客戶的特殊應(yīng)用,我們給該客戶配置的該套測(cè)量系統(tǒng)考慮到了應(yīng)用在透明與不透明基底的兩種應(yīng)用。充分滿足客戶的應(yīng)用需求以及節(jié)省成本。
美國(guó)Filmetrics公司生產(chǎn)的F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x是具有自動(dòng)Mapping功能的測(cè)量?jī)x,具有其系列的所有優(yōu)點(diǎn):利用光譜反射的原理,測(cè)量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率,測(cè)量快,操作簡(jiǎn)單及*具性價(jià)比的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。Filmetrics公司的設(shè)備測(cè)量范圍從近紅外到紫外線,波長(zhǎng)范圍從200nm到1700nm,測(cè)量厚度從30A到500um范圍。凡是光滑的,透明或半透明的,或是對(duì)光有吸收的膜層都可以測(cè)量。