岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F50-UV的訂單（2010.1.18）

       岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F50-UV的訂單。該客戶為國內(nèi)研究鐵電薄膜領(lǐng)域的頂尖院校，主要研究BaTiO3，BNT，BLT等材料的特性及生長工藝。F50-UV主要用于研究鐵電薄膜生長工藝，控制5" 硅片上BNT生長均勻性，以及研究一些太陽能領(lǐng)域使用的導電薄膜，如AZO等。
       F50系列自動膜厚測量系統(tǒng)是基于F20薄膜厚度測量儀系列的升級版，具有多點測試、自動檢測、檢測速度快、測量精準等優(yōu)點，該款設(shè)備波長范圍為200-1100nm,可檢測膜層厚度范圍在1nm-40um之間，*大可自動測量12寸硅片，可根據(jù)實際應(yīng)用選取掃描點數(shù)進行全圖掃描，具有2點/秒的快速測量速度。

       （該系統(tǒng)以于2011年10月交付，安裝和和驗收）