SEMICON China 2013，岱美誠邀您光臨

發(fā)布時間：2013-02-26

瀏覽次數(shù)：161

       岱美將參加第二十四屆SEMICON China 2013，在此誠摯邀請各位業(yè)界朋友蒞臨觀展，共同交流與分享，您的支持與參與將是我們*大的榮幸！
     展位號：N4館，4705
     時間：2013年3月19-3月21日
     地點：上海新國際博覽中心
     展位圖可見：http://expo.semi.org/china2013/Public/floorplan.aspx?MapID=168&BoothID=254144&Booth=4705

本次岱美將為您展示如下樣機：

       Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀： F20-UV-X, F50
       MicroSense電容式位移傳感器
   RAM影像測試儀-美國進(jìn)口高精度RAM光學(xué)影像測試儀：Sprint MVP 250P
Schmitt 光學(xué)表面粗糙度測試儀

自1988年首次在上海舉辦以來，SEMICON China已成為中國首要的半導(dǎo)體行業(yè)盛事之一，囊括當(dāng)今世界上半導(dǎo)體制造領(lǐng)域主要的設(shè)備及材料廠商。SEMICON China見證了中國半導(dǎo)體制造業(yè)茁壯成長，加速發(fā)展的歷史，也必將為中國半導(dǎo)體制造業(yè)未來的強盛壯大作出貢獻(xiàn)。

日期及時間：2013年3月19–21日

· 2013年3月19日（星期二） 09：00-17：00

· 2013年3月20日（星期三） 09：00-17：00

· 2013年3月21日（星期四） 09：00-16：00

地點：上海新國際博覽中心（SNIEC）

主辦單位：SEMI和中國電子商會

轉(zhuǎn)載請注明來源：airconditioningrepair-tarzana-ca.com

新聞資訊

NEWS

我是分類列表